Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий. Методы и применение
Под ред. Жу У., Уанга Ж.Л., Пер. с англ.
Монография посвящена рассмотрению методов растровой электронной микроскопии (РЭМ) применительно к нанотехнологиям и включает не только исследование характеристик различных наноматериалов, наноструктур и нанообъектов, но и технологию их изготовления in situ. В книге под редакцией известных ученых собраны статьи и обзоры видных специалистов в областях, относящихся к нанотехнологиям. Рассмотрены различные типы РЭМ, включая просвечивающие микроскопы с высоким разрешением, рентгеновский микроанализ, новейшие методы получения изображения посредством обратно рассеянных электронов, а также методы электронной криомикроскопии для исследования биообъектов. Использование РЭМ включает изучение наночастиц, нанопроволок, нанотрубок, трехмерных на- ноструктур, квантовых точек, магнитных наноматериалов, фотонных кристаллов и биологических наноструктур. Книга предназначена не только для широкого круга практических специалистов в сфере нанотехнологий, но может быть использована также студентами вузов и разработчиками новых типов растровых электронных микроскопов.
Anno:
2014
Edizione:
2-е изд. (эл.)
Casa editrice:
Издательство "Лаборатория знаний" (ранее "БИНОМ. Лаборатория знаний")
Lingua:
russian
Pagine:
600
ISBN 10:
5996321238
ISBN 13:
9785996321230
File:
PDF, 17.91 MB
IPFS:
,
russian, 2014